一、产品简介:
JD-110 MIT式耐折度测定仪 专门检测纸及纸板之耐折强度,试法是将试片两端固定于机上,下夹具施与所须之荷重,使试片承受一定之张力,下夹具在试片垂直状态下向左右两边往复弯折试样,弯折角度为135度,直到折断试片。测定厚度1mm以下,为单折头MIT式,其结构参数和性能全面符合ISO5626和GB2679.5的有关规定。耐折度仪的数据处理由计算机芯片完成。仪器具有技术先进、功能齐全、性能可靠、操作方便等优点,是造纸、包装、科研及产品质量监督检验等行业和部门理想的试验设备。
二、设计标准:
TAPPI-T423PM,ASTM-D2176,JIS-P8115,GB/T2679-5
三、主要技术参数:
型号 |
JD-110 MIT式耐折度测定仪 |
测量范围 |
≤1mm |
试样 |
15×(150~200)mm |
荷重方式 |
砝码式 / Weight type |
折叠头圆弧半径 |
R0.38mm |
折叠头缝口宽度 |
0-0.25;0. 25-0.5 0.5-0.75;0.75-1.00mm |
折叠角度 |
135° |
折叠速度 |
175次/分 |
张力调节范围 |
4.9-14.7N |
电源 |
1∮,AC220V,2.6A,50Hz |
计数范围 |
0-9999次 |
外型尺寸 |
360×300×325mm |
功率 |
90W |
重量 |
37.5Kg |
工作条件 |
室温10°C,工作台稳固、台面平 |
电机 |
伺服电机 |
四、备注:本机可配各式夹具及伸长量测试装置,或依客户需求装配。
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